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  • 降落数值测定仪

    FN-IV降落值测定仪,降落数值测定仪是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的仪器。

    更新时间:2022-07-21

    厂商性质:生产厂家

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